电磁辐射（天线）与散射（雷达与隐身）领域的近场研究，具有很高的理论意义和工程价值。国际上天线近场测量技术研究*早可溯源到20世纪50年代，以满足相控阵雷达及天线罩等军用装备的发展需要。历经近60多年的技术进步，发展出了平面、柱面和球面等近场扫描形式，以满足各种电磁辐射测试与调试的工程需求。1988年美国国家标准局的Barird和佐治亚工学院的Joy在IEEE Transactions on Antennas and Propagation专刊上分别回顾了天线近场测量技术的发展史，标志着近场测量技术的成熟。之后又经20余年的完善，2012年天线测量技术协会（Antenna Measurement Techniques Association，AMTA）组织并发布了IEEE Recommended Practice for Near-Field Antenna Measurements（IEEE天线近场测量推荐实施标准），译者有幸在AMTA 2012年会现场见证了来自美国国家标准局（NIST）的Michael Francis宣布IEEE Std 1720TM一2012的发布。
　　辐射测量是散射测量的基础，而电磁散射近场测量具有更为重大的潜在应用价值。译者长期从事紧缩场研究，有着电磁辐射与散射测量一线工作的经历，对近场问题的关注也源于紧缩场应用、检测与误差校正等的研究。为了进一步推动我国电磁测量基础技术与应用的发展，服务于我国军事和民用装备的研制，译者引进与翻译了《IEEE天线近场测量推荐实施标准》，书中涵盖了平面、柱面和球面近场测量基本理论与工程应用、扫描探头以及不确定度分析等内容，对我国新一代雷达天线、射频隐身和无线通信等领域的天线测量研究人员有一定的参考价值。
　　由于译者水平有限，书中难免会有错误与不妥之处，敬请读者指正。

1 概述
1．1 范围
1．2 目的

2 引用标准

3 背景
3．1 天线方向图
3．2 近场测量基本理论
3．3 远场与近场测量比较
3．4 内容提要

4 测量系统
4．1 机械扫描子系统
4．1．1 平面近场扫描
4．1．2 柱面近场扫描
4．1．3 球面近场扫描
4．2 典型射频子系统
4．3 典型数据采集子系统
4．4 数据处理
4．5 测量精度
4．5．1 测量环境
4．5．2 近场方案的选择和使用
4．5．3 探头天线的选择
4．5．4 机械子系统的精度
4．5．5 射频子系统的精度
4．6 校正方案
4．6．1 热漂移校正
4．6．2 阻抗失配校正
4．6．3 探头位置校正
4．6．4 电缆形变校正

5 平面近场扫描
5．1 引言
5．1．1 平面矩形法
5．1．2 平面极坐标和双极坐标法
5．2 理论概要
5．2．1 平面波展开
5．2．2 发射和接收函数
5．2．3 Kems传输方程
5．2．4 探头校正
5．2．5 离散化与采样准则
5．2．6 数据处理
5．3 实施
5．3．1 测量配置
5．3．2 探头校正
5．3．3 归一化
5．3．4 增益测定
……

6 柱面近场扫描
7 球面近场扫描
8 探头
9 不确定度分析
10 专题
11 总结
12 参考文献